日前，由中國電子科技集團第45所承擔的國際科技合作項目“自動光學檢測(AOI)設備技術合作”，通過了國家級驗收，技術指標達到了國外同類設備水平，標志著自動光學檢測(AOI)設備設備實現了國產化，填補了國內空白。
據了解，當今電子裝備在結構上強調實現小型化、微型化、模塊化，以滿足高性能、高可靠、大容量、小薄輕的要求。線路板上元器件組裝密度提高，其線寬、間距、焊盤越來越細小，已到微米級，復合層數越來越多。傳統的人工目測（MVI）和針床在線測試（ICT）檢測因“接觸受限”（電氣接觸受限和視覺接觸受限）所制,已不能完全適應當今制造技術的發展，自動光學檢測系統（AOI）已經成為IC制造業的必然需求，正越來越多地用來代替傳統MVI和ICT技術，進行檢測，用于監視和保證生產過程的品質。目前，我國自動光學檢測系統（AOI）設備主要依賴進口，一直被以色列、美國、日本等國家所壟斷。中國電子科技集團第45所，與加拿大開展了卓有成效的國際科技合作，共同研發自動光學檢測(AOI)設備，通過引進、消化吸收、再創新，終于研制出了具有國際水平的自動光學檢測(AOI)設備，打破了國外的壟斷與技術封鎖，使進口產品降價30%。
中國電子科技集團第45所通過技術引進和消化吸收，攻克了高速圖像采集和硬件處理技術，缺陷識別和處理技術，細微圖形采像技術等三項關鍵技術，并成功應用于AOI設備的研制，目前已獲得專利4項，申報并受理發明專利6項，發表學術論文6篇，獲省部級科學技術二等獎1項。該項目的完成，標志著我國在自動光學檢測設備領域具備與國外主流設備展開競爭的實力，提高了我國電子專用檢測設備的制造水平。
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